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多功能原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，AFM）是一種重要的納米尺度表面形貌和力學性質測量工具。它利用微小的探針來掃描樣品表面，并通過測量應力或位移來生成高分辨率的圖像。它具有廣泛的應用領域，包括材料科學、納米技術、生物醫學等。通過不同模塊的組合，可以實現對材料的形貌、力學、電學和磁學性質的綜合......

原子力顯微鏡用防震平臺是一種高分辨率顯微鏡，能夠在原子尺度上進行表面成像和力學測量。它的運行需要一個非常穩定的環境。因為任何外部振動都可能干擾到成像過程中的原子級別的細微變化。因此，為了確保原子力顯微鏡用防震平臺的精準性，防震平臺是必須的。防震平臺是一種可以抑制外部振動的設備，展示平坦的表面以及對系統的制動力，并且通過......

低溫掃描探針顯微鏡是一種高分辨率的表面成像技術，它通過在非常低的溫度下對樣品進行掃描和檢測來獲得微觀結構和性質信息。這種技術可以用于研究許多不同類型的材料，包括納米結構、超導體、有機材料和金屬合金等。基于掃描隧道顯微鏡（STM）的原理，但它比STM多了一個重要的特點：在非常低的溫度范圍內操作。低溫能夠減緩或消除許多熱噪......

針式掃描原子力顯微鏡是一種利用量子隧穿現象的顯微鏡，可以進行原子級的表面成像。核心部分是一個非常尖銳的針，一端與被測樣品表面相距約0.1納米。當針尖靠近樣品表面時，電勢差將導致電流從針尖向樣品表面流動。通過控制電流的大小，可以得出樣品表面的形狀信息。能夠實現原子級別的成像，不僅可以觀察單個原子和分子的結構，還可以研究它......